Máy đo trở kháng và máy phân tích trở kháng Hioki LCR có phạm vi từ các thiết bị 1 MHz đến 3 GHz để phù hợp với nhiều ứng dụng trong việc thử nghiệm các linh kiện điện tử. IM7581 cung cấp thời gian đo cao nhất là 0,5 ms trên dải tần từ 100 kHz đến 300 MHz, lý tưởng cho việc sản xuất hạt chip ferrite và cuộn cảm chip với số lượng lớn.

Đo LCR bằng Thiết bị kiểm tra SMD IM9201: Máy phân tích trở kháng Sê-ri IM7580

Dòng IM7580 bao gồm năm mẫu có tần số đo từ 1 MHz đến 3 GHz. Được sử dụng kết hợp với Thiết bị kiểm tra IM9201, có thể chứa sáu kích cỡ SMD, các thiết bị dòng IM7580 cho phép bạn đo mẫu một cách dễ dàng và đáng tin cậy.

Các tính năng chính:

• 100 kHz đến 300 MHz thử nghiệm tần số nguồn 
• Kiểm tra tốc độ nhanh nhất là 0,5 ms (Analog đo lường thời gian)
• ± 0.72% RDG. chính xác cơ bản
• Phương pháp RF IV
• Nhỏ gọn, một nửa-rack dấu chân với tiết kiệm không gian đầu thử nghiệm
• Kiểm tra toàn diện liên lạc (qua thử nghiệm DCR, Hi-Z từ chối hoặc phán xét dạng sóng)
• Hãy quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong phân tích chế độ

Thiết bị không được vận chuyển kèm theo thiết bị kiểm tra hoặc đầu dò. Cần có một thiết bị kiểm tra được thiết kế đặc biệt để sử dụng với Máy phân tích trở kháng.

Thông số kỹ thuật cơ bản:

Độ chính xác được đảm bảo: 1 năm